Our Solution
解決方案
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半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)量為客戶提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導(dǎo)體測(cè)試方案，并提供搭配其他測(cè)試設(shè)備。針對(duì)高功率半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，搭配高功率晶體管參數(shù)曲線圖示儀詳情 -
光電耦合測(cè)量探針臺(tái)選型指南：探針臺(tái)體尺寸，顯微觀察倍率，探針座和夾具，屏蔽和隔振。光電集成方案：光源種類，光電結(jié)合方式...詳情 -
真空低溫測(cè)量開循環(huán)/閉循環(huán)制冷和溫度范圍可選；低倍體視/高倍金相顯微觀察可選；可配1~6個(gè)微定位波紋臂，測(cè)試夾具有直流、開爾文...詳情 -
變溫環(huán)境測(cè)量高低溫探針臺(tái)選型指南，低溫制冷原理，HTM系列密閉高低溫探針臺(tái)...詳情 -
射頻/微波測(cè)量配套儀表：矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜儀、信號(hào)發(fā)生器、示波器、鎖相放大器、數(shù)字源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀等。詳情 -
高壓/大電流測(cè)量高壓/大電流測(cè)量用于對(duì)各種電器產(chǎn)品、電氣元件、絕緣材料等進(jìn)行規(guī)定電壓下的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)，以考核產(chǎn)品的絕緣水平...詳情