半導(dǎo)體參數(shù)測量
天恒旗下產(chǎn)品，為客戶提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導(dǎo)體測試方案，并提供搭配其他測試設(shè)備。
半導(dǎo)體材料測試平臺(tái)
半導(dǎo)體工藝測試平臺(tái)
芯片設(shè)計(jì)測試平臺(tái)
芯片驗(yàn)證測試平臺(tái)
半導(dǎo)體材料測試平臺(tái)包括：
針對(duì)晶元級(jí)半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，搭配半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，用于測試分離器件、材料的三大特性：
- 1、直流特性，如IV曲線、IT曲線、VT曲線、RT曲線等；
- 2、電容電壓特性CV曲線（CVU）；
- 3、脈沖特性測試(PMU)，支持超高速脈沖測試。支持以上特性的多通道同步測試。
針對(duì)高功率半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，搭配高功率晶體管參數(shù)曲線圖示儀，或稱晶體管曲線追蹤儀，支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線、電容電壓特性CV曲線測試。
半導(dǎo)體工藝測試平臺(tái)包括：
針對(duì)大規(guī)模測試，如晶元上多點(diǎn)測試，復(fù)雜系統(tǒng)的自動(dòng)化測試，搭配自動(dòng)化半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng)，支持各類晶元Wafer和MEMS的自動(dòng)化、半自動(dòng)化參數(shù)測試。廣泛用于晶元的失效分析測試（FA）,質(zhì)量控制測試（QA），可靠性分析測試（RA）。
芯片設(shè)計(jì)測試平臺(tái)包括：
針對(duì)高速串行芯片設(shè)計(jì)，提供完整的發(fā)送端測試解決方案，配備高帶寬實(shí)時(shí)示波器、各種探頭、一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標(biāo)準(zhǔn)覆蓋各類常用標(biāo)準(zhǔn)，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。
芯片驗(yàn)證測試平臺(tái)包括：
針對(duì)高速串行芯片設(shè)計(jì)，提供完整的接收端容限測試解決方案，配備高速誤碼率分析儀，及一致性測試夾具、一致性測試軟件等，支持的標(biāo)準(zhǔn)覆蓋各類常用標(biāo)準(zhǔn)。